
Le profil de densité révèle les paramètres de qualité d'un panneau et montre l'optimisation possible du procédé de fabrication.
Le DENSE-LAB X mesure le profil de densité perpendiculairement à la surface du panneau. Ce profil est affecté par le diagramme de pression de la presse. Normalement, on aspire à une densité élevée dans la couche de surface. L'épaisseur de la couche de surface et la définition des tolérances de ponçage sont, entre autres, des informations utiles pour l'optimisation de la production. La couche médiane ne doit pas présenter de fortes variations de densité ce qui affaiblirait la cohésion interne.
Le calcul de la densité moyenne, des valeurs maximales et minimales, le calcul de la valeur moyenne ainsi que les comparaisons des échantillons de panneau sont également des données intéressantes qui peuvent être fournies.
Le système à rayons X est rapide et précis. Plusieurs échantillons peuvent être mesurés automatiquement sans besoin de supervision. Le système DENSE-LAB X est approprié au montage sur une table de laboratoire. Des inspections strictes et une fabrication qui répond aux plus hauts standards en matière de sécurité évite toute émission de rayonnement vers l'extérieur du système.
Fonction:
Le système DENSE-LAB X mesure le profil de densité des échantillons de panneau perpendiculairement à la surface.
Lieu d'installation:
Options:
Avantages:
Système informatique:

Données techniques:
| Technologie: | rayons X |
| Courant d'anode: | < 1 mA |
| Haute tension: | < 32kV |
| Puissance: | 700 VA |
| Refroidissement: | ventilateur |
| Durée de vie du tube à rayons X: | environ 5 ans |
| Plage de mesure: | jusq'à 1.500 kg/m³ (norme) |
| Résolution: | de 10 à 100 µm |
| Durée de la mesure: | de 0,1 à 1 s/étape |
| Précision: | 1% de précision de répétition |
| Taille de l'échantillon: | 50 x 50 mm |
| Support d'échantillons: | plusieurs échantillons jusqu'à 300 mm |
| Poids: | 50 kg (sans PC, sans moniteur ni imprimante) |
| Température ambiante: | de 10 à 35°C |
| Humidité de l'air: | max. 80% |
Sécurité:
Analyse:
Support d’échantillons: